【第一參賽人/留學人員】翟欣雨
【留學國家】韓國
【技術領域】新一代信息技術
【參賽屆次】第11屆
【所獲獎項】雛鷹組三等獎
【項目簡介】
本項目聚焦于晶圓檢測技術與設備，旨在提升國內半導體檢測領域的技術水平與市場競爭力。當前，先進制程的國產化率較低，尤其是在500道以上工藝、1X制程量檢測設備領域，國產化率僅為5%。項目團隊實力雄厚，匯聚了多位頂尖專家，與國內外半導體上下游企業緊密合作。技術亮點包括基于軌道角動量的光學檢測算法、電子束短波高精度檢測以及超精密化學平坦化多傳感監控系統。項目產品涵蓋顯示驅動芯片晶圓探測自動測試設備，定位于國產化替代，打破國外技術壟斷。目前，項目已取得階段性成果，檢測流程提速42%，輔助工藝良率提升23%，獲得“高價值技術方案”評價，減少30%晶圓制備流程，項目收入累計達2300+萬。未來，項目將繼續深化技術研發與市場拓展。
【展開】
【收起】